Start

Standarder

    Handböcker

      Paket

        Hämta fritt

          Se fler sökträffar
          Du har 0 vara i varukorgen
          Visa varukorg | Till kassan
          VARUKORGEN
          Summa ovanstående 0
          Erhållen rabatt 0
          Beräknad fraktkostnad 0
          Visa varukorg | Till kassan
          PRIS 1.260,00 kr

          IEC 63068-1:2019

          IEC 63068-1:2019

          Språk: Engelska  |  Sidantal: 23

          Engelsk titel

          Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

          Information


          Ansvarig kommitté: Elektrotekniska rådet -

          ICS-kod

          31.080.99;Övriga halvledarkomponenter

          TILLBAKA | SKRIV UT | HÄMTA PREVIEW | KÖP PAPPER | KÖP PDF

          Meddelande

          Observera att detta kan påverka ert avtal och medföra extrakostnader