Du har 0 vara i varukorgen
Visa varukorg | Till kassan
VARUKORGEN
Summa ovanstående 0
Erhållen rabatt 0
Beräknad fraktkostnad 0
PRIS 1.260,00 kr

IEC 63068-2:2019

Språk: Engelska  |  Sidantal: 25

Engelsk titel

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

Information

ICS-kod

31.080.99;Övriga halvledarkomponenter

Meddelande

Observera att detta kan påverka ert avtal och medföra extrakostnader